VIS~NIR~ SWIR高光譜顯微鏡
IMA是高光譜顯微鏡，提供可見光、近紅外和短波紅外范圍(400 nm - 1620 nm)的光譜和空間信息。該系統(tǒng)可快速檢測光致發(fā)光、電致發(fā)光、熒光、反射和透射率。基于高性能、全范圍的成像濾波器，IMA比標(biāo)準(zhǔn)逐點(diǎn)或線掃描系統(tǒng)更快、更高效。
▏產(chǎn)品詳情
VIS~NIR~ SWIR高光譜顯微鏡
IMA是高光譜顯微鏡，提供可見光、近紅外和短波紅外范圍(400 nm - 1620 nm)的光譜和空間信息。該系統(tǒng)可快速檢測光致發(fā)光、電致發(fā)光、熒光、反射和透射率。基于高性能、全范圍的成像濾波器，IMA比標(biāo)準(zhǔn)逐點(diǎn)或線掃描系統(tǒng)更快、更高效。
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技術(shù)指標(biāo) |
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產(chǎn)品型號(hào) |
VIS~NIR |
NIR~SWIR |
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光譜范圍 |
400-1000 nm |
900-1620 nm |
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光譜分辨率(FWHM) |
＜2 nm |
＜4nm |
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光譜調(diào)整 |
連續(xù)可調(diào) |
連續(xù)可調(diào) |
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空間分辨率 |
亞微米-受顯微鏡物鏡NA的限制 |
亞微米-受顯微鏡物鏡NA的限制 |
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相機(jī) |
CCD, EMCCD, SCMOS |
Photon etc，InGaAs相機(jī)(ZephIR™1.7或Alizé™1.7)
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激發(fā)波長 (可升級(jí)至3波長) |
405, 447, 532, 561, 660, 730, 785, 808 nm (其他波長可根據(jù)要求提供) |
405, 447, 532, 561, 660, 730, 785, 808 nm (其他波長可根據(jù)要求提供) |
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顯微鏡 |
直立或倒置，科學(xué)等級(jí) |
直立或倒置，科學(xué)等級(jí) |
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光源，光路 |
汞燈\鹵素?zé)簦干?/span>\反射 |
汞燈\鹵素?zé)簦干?/span>\反射 |
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測試選擇模塊 |
熒光模塊\暗場模塊 (油浸或空氣) |
熒光模塊\暗場模塊 (油浸或空氣) |
IMA應(yīng)用
復(fù)雜材料分析，如太陽能電池特性和半導(dǎo)體質(zhì)量控制。
研究復(fù)雜環(huán)境下的紅外標(biāo)記物，包括活細(xì)胞和組織。
檢索暗場圖像，獲得透明和未染色樣本的對(duì)比，如聚合物，晶體或活細(xì)胞。
PRODUCT
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