北京培科創新技術有限公司現推出測樣服務：

一、設備型號：

  日本電子JCM-7000臺式掃描電鏡

二、原理

       SEM的工作原理是用一束極細的電子束掃描樣品，在樣品表面激發出次級電子，次級電子的多少與電子束入射角有關，也就是說與樣品的表面結構有關，次級電子由探測體收集，并在那里被閃爍器轉變為光信號，再經光電倍增管和放大器轉變為電信號來控制熒光屏上電子束的強度，顯示出與電子束同步的掃描圖像。圖像為立體形象，反映了標本的表面結構。

三、性能

1.×10～100000，直接放大倍率；24~202168，顯示放大倍率。

2. 0～30光學放大。

3.儀器搭配背散射電子探測器，二次電子探測器，EDS能譜分析儀。

4.元素測試范圍B（5）-U（92）

5.能譜性能：分辨率不低于129eV(MnKα)，有效面積：30mm2。

另附元素激發能量表（臨界）

四、服務項目

1．金屬、陶瓷、礦物、水泥、半導體、紙張、塑料、食品、農作物等材料的顯微形貌、晶體結構和相組織的觀察與分析。

2．各種材料微區化學成分的定性和定量檢測；金屬材料牌號的確定。

3．機械零部件、電子元器件失效分析。

4．粉末、微粒納米樣品形態和粒度的測定。

5．復合材料界面特性的研究。

6．表面微量污染物、異物及其來源分析。

7．表面鍍層成分、鍍層厚度與結構分析。

五、送樣需知

1.不導電樣品需做噴金處理，不額外提供制樣服務。

2.樣品尺寸不大于50mm(H)x80mm(D)

噴金效果比對：

六、其他

1. 可提供“低真空”（20Pa）、“電荷減輕模式”（60Pa）條件下的樣品測試。
2. 可提供元素分析報告（點、線、面）。

注：低真空環境有利于對不導電的樣品進行直接觀測，同時可避免部分樣品由于真空條件導致的損壞，下圖為低真空模式對樣品測試的示意圖：

樣品：名片

1000x，未噴金的名片，放電明顯，無法觀測有效信息。

2200x，低真空模式，部分區域放電明顯，成像質量較噴金樣品差區別明顯

1000x，減輕電荷模式，放電效果進一步減輕，可觀測部分表面形貌

10000x，噴金后的名片，成像質量高，細節信息豐富。

七、應用領域及分析案例

  陶瓷、高分子、粉末、環氧樹脂、地質、冶金、礦物、污泥（桿菌） 、機械、電機及導電性樣品，如半導體(IC、線寬量測、斷面、結構觀察 ）電子材料等。

八、聯系方式

王經理：15948310202

郵箱：rocky.wang@peakscience.cn